文章详情
所在位置: 首页> 技术文章> 其它>

工具显微镜的数显技术改造

日期:2019-12-07 08:58
浏览次数:1963
摘要:
    万能工具显微镜可以测量零件的长度、角度、螺纹等诸多几何量参数,是长度计量检测中使用*多的一种测试仪器,因此广泛应用于机械加工业的各类企业。但随着现代工业的发展以及科技的进步,传统的老式万工显已难以满足要求,因此很有必要对其进行工艺改造。本文以*常用的 JX7 型万能工具显微镜为例,介绍对万能工具显微镜的数显工艺改造。 
一、 数显系统的改型 
    根据用户多年在设备中应用光栅、磁栅以及球栅数显系统的经验,比较不同数显系统的特点并通过性能和精度检测,选择 KG1 型高精度光栅数显系统。该系统具有制造精度高、稳定性好、可靠性好以及装置简单、调试方便、对环境要求不高等优点,适合用于万工显的改造。 
    根据 JX7 型万工显的测量范围为纵坐标 200mm 、横坐标 100mm ,选用 KG1 型测量范围 250mm 和测量范围 100mm 两根光栅;选用配套的 GS-2000 型两轴数显表(*小分辨率为 0.2 μ m ),它具有传感器的接口,可与 KG1 型原装计量传感器进行配套。 
二、数显系统的装置 
    由于加装数显系统必须在不影响仪器原有光学系统的前提下进行,所以采用图 1 所示装置方案:将 250mm 的长磁尺装置在纵向导轨的右侧(左侧是仪器原有的玻璃刻度尺),因装置位置所限右侧须加装一个支承块,用来固定光栅的右端; 100mm 的光栅装置在横向导轨的**(图 1B 处)。按照说明书上的装置工艺条件,分别将两个尺子装置基面调整到与纵、横向导轨运动方向(水平方向和垂直方向)平行,其平行度〈 0.1mm (通常装置时都能方便地调整到 0.05mm 以内)。 
三、数显系统的调试 
    纵坐标的调试:取下一起纵向导轨上的玻璃工作台,将一块 200mm 的 3 等量块两端分别研上 10mm 的量块附件,将其装置在纵向导轨刮研基面(见图 1 量块安置处),使其与光栅尺装置在同一直线上,以减少阿贝差别。再用装置在仪器横向滑架上的计量传感器测头与量块的一端接触,此时数显表开始计数,然后移动纵向导轨使传感器测头与量块的另一端接触,在接触的瞬间数显表停止计数并保持数据。数显表的显示值与量块的实际尺寸之差就是数显系统的差值。该差值若小于 3 μ m 则不必修正,若大于 3 μ m 时可根据差值的大小通过数显表的差别补偿系统进行线性补偿,可使差别小于规定的数值甚至接近于零。 
    以同样的方法用 100mm 的量块对横坐标进行调试,此不赘述。 
四、数显系统的检定 
    根据万工显检定规程中的相关规定,需要检定读数装置的示值差别、读数装置的回程差别和示值差别。 
( 1 ) 读数装置的示值差别检定 
    对数显系统来说,读数装置的示值差别就是数显表的*小分辨率,即± 0.5 μ m ,无须检定。 
( 2 )读数装置的示值差别的检定(相当于磁栅尺的重复性) 
    光栅尺读数装置就其构造和原理来说是没有回程差别的,当然这需要很高的工艺水平做保证。通过用 0.1 μ m 的电感测微仪反复测试,光栅尺读数装置的回程差别*大不超过 0.5 μ m 。 
( 3 )示值差别的检定(相当于磁栅尺的准确性) 
    用检定极限差别不大于 0.5 μ m 的玻璃刻度尺作为标准,按照规程规定的条件方法对纵、横向分别进行检定;若没有玻璃刻度尺,可用万工显原有的刻度尺与光栅尺进行比较检定,并用仪器原有的示值差别进行修正,以确定光栅尺各被检点的实际差别,若有超差再用线性补偿系统进行补偿。 

尊敬的客户:
    感谢您关注我们的产品,本公司除了有此产品介绍以外,还有复消色差物镜,三维旋转显微镜,大变倍比显微镜,自动化镜头等等的介绍,您如果对我们的产品有兴趣,欢迎来电咨询。谢谢!

苏公网安备 32050902100450号